1、 接觸電阻試驗(Contact Resistance)

　　標(biāo)準(zhǔn)：JQB 1-2001-12.2.1

　　接觸電阻測試是測試端子靜態(tài)的接觸性能，即接觸電阻應(yīng)不大于一定的數(shù)值。

　　2、 工頻耐壓試驗(Power-Frequency Withstand Voltage Test)

　　標(biāo)準(zhǔn)：JQB 1-2001-12.2.1

　　工頻耐壓試驗是測試端子外殼應(yīng)能否承規(guī)定的暫態(tài)或短時工頻過電壓。在試驗期間，不得出現(xiàn)閃絡(luò)或擊穿等現(xiàn)象。

　　3、 沖擊耐壓試驗(Impulse Withstand Voltage Test)

　　標(biāo)準(zhǔn)：JQB 1-2001-12.2.1

　　沖擊耐壓試驗是測試端子外殼應(yīng)能否承受規(guī)定的瞬態(tài)過電壓。試驗過程中應(yīng)無破壞性放電。

　　4、 電壓降試驗(Voltage Drop Test)

　　標(biāo)準(zhǔn)：JQB 1-2001-12.2.1

　　電壓降試驗是測試端子的動態(tài)接觸性能。電壓降應(yīng)不大于一定的數(shù)值。

　　5、 溫升試驗(Temperature Rise Test)

　　標(biāo)準(zhǔn)：JQB 1-2001-12.2.3

　　溫升試驗是測試端子在正常使用時，其溫升不能超過規(guī)定值，一般UL標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定端子在通過電流后，其溫度的升高不能超過環(huán)境溫度的30℃。

　　6、 高低溫電氣性能試驗(Electrical Performance Test)

　　標(biāo)準(zhǔn)：JQB 1-2001-12.1.3

　　電氣性能試驗是測試無螺紋型端子在正常使用時，其電氣性能的可靠性。在端子經(jīng)受192個循環(huán)后，其在第24個和最后一個循環(huán)的電壓降不得大于一定值。